超纯水(UPW)是制药和半导体等行业的命脉。它意味着水经过了最严格的净化过程,以消除所有形式的污染物,无论是有机的还是无机的,挥发性的还是非挥发性的,亲水性的还是疏水性的,甚至是溶解的气体。UPW是这些行业的基石,其质量不容讨价还价。
Vertex50已获得在UPW系统中测量和检测≥50nm颗粒的资格,在50nm阈值下具有真正的灵敏度。这是一项巨大的成就,因为在如此微小的尺度上检测和监测颗粒物的能力对于保持最高水平的水纯度至关重要。
Vertex50设计用于检测50nm至200nm尺寸范围内的颗粒。为了正确看待这些测量结果,Vertex50上可用的四个尺寸通道是:
◆0.05µm
◆0.10µm
◆0.15µm
◆0.20µm
Vertex50的流速为100ml/min,采样率为5ml/min,为精度设定了行业标准。它的一个突出特点是它的错误计数率低得令人难以置信,每毫升不到0.2个计数。这是一个关键方面,尤其是在处理纳米大小的颗粒时,因为假阳性会使数据无法使用。通过消除错误计数干扰,Vertex50确保了其提供的数据的可靠性。
为了验证Vertex50的真实灵敏度和准确性,受控测试设置至关重要。必须仔细控制测试颗粒的引入,以保持测试浓度并避免可能扭曲结果的外部影响。
在这些测试中,设置受到严格控制,Vertex50会立即记录颗粒浓度引入。其50nm尺寸范围内的高灵敏度是通过部分流激光技术实现的,该技术可实现准确和可验证的尺寸。该技术将激光强度聚焦在流通池内的焦点处,确保准确检测到通过该点的颗粒,低至50nm。需要注意的是,并非所有样品都会通过这个焦点,但这项技术可以在不影响安全限值的情况下提高灵敏度。
为确保UPW系统健康,建议使用实时在线监测来监测特定尺寸范围内的颗粒物:
≥0.5µm(500nm)颗粒
≥0.2µm(200nm)颗粒
≥0.1µm(100nm)颗粒
≥0.05µm(50nm)颗粒
通过将Vertex50放置在UPW系统内的多个位置,可以监测过滤器性能和系统效率,并在发生污染时发出警报。这保证了产品使用未受污染的UPW进行加工,从而提高了产品产量和质量。
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